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          基礎(chǔ)信息Product information

          產(chǎn)品名稱:涂層測厚儀 膜厚計 德國EPK

          產(chǎn)品型號:MINITEST 730

          產(chǎn)品簡介:

          MINITEST 730 涂層測厚儀 膜厚計 德國EPK
          創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性

          -測量范圍達(dá)15mm,可更換F、N或FN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

          -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

          SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭

          產(chǎn)品特性Product characteristics

           

          MINITEST 730 涂層測厚儀 膜厚計 德國EPK

          MINITEST 730 德國EPK 涂層測厚儀 膜厚計

          創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性

          -測量范圍達(dá)15mm,可更換FNFN探頭,供內(nèi)置或外接探頭使用

          -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

           

          SIDSP技術(shù)-技術(shù),智能數(shù)字化的涂層測厚探頭
          模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

          標(biāo)準(zhǔn)配置:                                                         推薦配件:
          帶塑料手提箱,內(nèi)含:                                          -   F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
          -MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
          --或MINITEST 730(外置探頭)
          --或MINITEST740主機(jī)(不含探頭,有各種探頭可選)
          -校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板
          -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
          -2節(jié)AA電池
           

          技術(shù)數(shù)據(jù)表
          SIDSP探頭

           


          探頭
          特性

          F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

          F2

          F5,N2.5,F(xiàn)N5

          F15

          F

          N

          F

          F

          N

          F

          測量范圍

          0-1.5mm

          0-0.7mm

          0-2mm

          0-5mm

          0-2.5mm

          0-15mm

          使用范圍

          小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

          粗糙表面

          標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

          厚涂層

          測量原理

          磁感應(yīng)

          電渦流

          磁感應(yīng)

          磁感應(yīng)

          電渦流

          磁感應(yīng)

          信號處理

          探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

          精確度

          ±(1μm+0.75%讀值)

          ±(1.5μm+0.75%讀值)

          ±(5μm+0.75%讀值)

          重復(fù)性

          ±(0.5μm+0.5%讀值)

          ±(0.8μm+0.5%讀值)

          ±(2.5μm+0.5%讀值)

          低端分辨率

          0.05μm

          0.1μm

          1μm

          zui小曲率半徑(凸)

          1.0mm

          1.5mm

          5mm

          zui小曲率半徑(凹,外置探頭)

          7.5mm

          10mm

          25mm

          zui小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

          30mm

          30mm

          30mm

          zui小測量面積

          Φ5mm

          Φ10mm

          Φ25mm

          zui小基體厚度

          0.3mm

          40μm

          0.5mm

          0.5mm

          40μm

          1mm

          連續(xù)模式下測量速度

          每秒20個讀數(shù)

          單值模式下zui大測量速度

          每分鐘70個讀數(shù)

          主機(jī)

           


          型號
          特性

          MINITEST 720

          MINITEST 730

          MINITEST 740

          探頭類型

          內(nèi)置

          外置

          內(nèi)置外置可換

          數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

          10

          10

          100

          存儲數(shù)據(jù)量

          zui多10,000個

          zui多10,000個

          zui多100,000個

          統(tǒng)計值

          讀值個數(shù),zui小值,zui大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

          校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

          ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

          校準(zhǔn)模式

          出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點校準(zhǔn),2點校準(zhǔn),3點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值

          極限值監(jiān)控

          聲、光報警提示超過極限

          測量單位

          um,mm,cm;mils,inch,thou

          操作溫度

          -10℃-60℃

          存放溫度

          -20℃-70℃

          數(shù)據(jù)接口

          IrDA 1.0(紅外接口)

          電源

          2節(jié)AA電池

          標(biāo)準(zhǔn)

          DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
          ASTM B244,B499,D7091,E376
          AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

          體積

          157mm x 75.5mm x 49mm

          重量

          約175g

          約210g

          約175g(內(nèi)置)/230g(外置)

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